超寬范圍雙折射測(cè)試儀 參考價(jià):面議
1.快速定量測(cè)量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的2.相位差、雙折射和內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變分布3.超寬范圍雙折射測(cè)試儀PHL雙折射測(cè)量?jī)xPA-300 參考價(jià):面議
PHL雙折射測(cè)量?jī)xPA-300是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x,PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm,可以測(cè)量的樣品...雙折射測(cè)量?jī)xPA-Micro 參考價(jià):面議
雙折射測(cè)量?jī)xPA-Micro是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x,PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm,可以測(cè)量的樣品范...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)